Maurer Magnetic Zero Gauss Chamber 零高斯室
Zero Gauss Chamber
用於品質保證的可重複且與位置無關的測​​量結果的測量點,例如跨營運供應鏈
鐵磁部件的剩磁測量不再因環境磁場而受到明顯扭曲
被動屏蔽、無功耗、免維護
明確的測量點,方便進入測量室
堅固的平台設計

Technical data*

Type NGK 17NGK 21
DimensionsW510610
(mm)H580620
 D500600
Dimension of the platformW410480
(mm)D280360
Weightkg3038
Shielding factor min 4.0 ( x=2.4 y=10.7 z=16.7)4.0 (x=2.4 y=12.6 z=17.0 )
Zero-Gauss chamber with axis labeling for the shielding factors, relevant for measuring residual magnetism

* All informations are without guarantee

Technical data*

Type NGK 17NGK 21
DimensionsW510610
(mm)H580620
 D500600
Dimension of the platformW410480
(mm)D280360
Weightkg3038
Shielding factor min 4.0 ( x=2.4 y=10.7 z=16.7)4.0 (x=2.4 y=12.6 z=17.0 )
Zero-Gauss chamber with axis labeling for the shielding factors, relevant for measuring residual magnetism

* All informations are without guarantee

環境磁場屏蔽

對於與位置無關的可重複測量值

 

對範圍 < 4 A/cm(~ 5 高斯)內的鐵磁性部件的剩磁進行測量,通常會受到感應地球磁場的顯著影響。由於材料的幾何形狀和磁導率,感應磁場可以放大數倍。根據地球磁場中細長部分(例如 0.4 A/cm),測量結果在相同測量點的波動可能高達 4 A/cm。

在零高斯室中測量銑刀的剩磁。環境磁場被強屏蔽,測量結果不會被竄改,從而顯示出元件的剩磁。

在零高斯室中測量銑刀的剩磁。退磁後的銑刀剩磁為0.1A/cm。

 

 

零高斯室內的組件測量可以在任何位置重複,從而實現客戶和供應商之間的全球品質保證。

由於腔室的高屏蔽係數,環境磁場大大減弱,從而可以在任何方向上進行精確的測量。這對於細長的部件和具有高初始磁導率的材料尤其重要。

剩磁測量零高斯室前的銑刀。環境磁場不再被屏蔽,測量結果受到嚴重影響,顯示出具有感應磁化的組件的剩磁。

同一刀具在地磁場中的剩磁測量。感應場使測量結果從 0.1A/cm 變為約 2.1A/cm

環境磁場屏蔽

對於與位置無關的可重複測量值

 

對範圍 < 4 A/cm(~ 5 高斯)內的鐵磁性部件的剩磁進行測量,通常會受到感應地球磁場的顯著影響。由於材料的幾何形狀和磁導率,感應磁場可以放大數倍。根據地球磁場中細長部分(例如 0.4 A/cm),測量結果在相同測量點的波動可能高達 4 A/cm。

在零高斯室中測量銑刀的剩磁。環境磁場被強屏蔽,測量結果不會被竄改,從而顯示出元件的剩磁。

在零高斯室中測量銑刀的剩磁。退磁後的銑刀剩磁為0.1A/cm。

 

 

零高斯室內的組件測量可以在任何位置重複,從而實現客戶和供應商之間的全球品質保證。

由於腔室的高屏蔽係數,環境磁場大大減弱,從而可以在任何方向上進行精確的測量。這對於細長的部件和具有高初始磁導率的材料尤其重要。

剩磁測量零高斯室前的銑刀。環境磁場不再被屏蔽,測量結果受到嚴重影響,顯示出具有感應磁化的組件的剩磁。

同一刀具在地磁場中的剩磁測量。感應場使測量結果從 0.1A/cm 變為約 2.1A/cm

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